射頻測(cè)試探針是一種專(zhuān)門(mén)用于高頻信號(hào)測(cè)試的精密測(cè)量裝置，主要用于對(duì)硅片、管芯及開(kāi)放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。它通常由適合探針針型的波導(dǎo)或同軸連接器組成，適用于連接位于半導(dǎo)體晶圓、芯片表面或印刷電路板(PCB)表面上的設(shè)備測(cè)試點(diǎn)或針盤(pán)。

下面我們將從射頻測(cè)試探針的核心特點(diǎn)、主要用途進(jìn)行簡(jiǎn)單介紹。

一、核心特點(diǎn)：

1、高精度：采用精密機(jī)械結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)微米甚至納米級(jí)定位。

2、種類(lèi)多：具有多種針型配置，如單針、接地/信號(hào)針、接地/信號(hào)/接地針等。

3、低失真：可以相對(duì)準(zhǔn)確的獲取數(shù)據(jù)，通常與高精度定位機(jī)制或探測(cè)設(shè)備配合使用。

二、主要用途：

1、晶圓級(jí)測(cè)試?：最常見(jiàn)的用途之一是在半導(dǎo)體行業(yè)，對(duì)處于高頻工作狀態(tài)的設(shè)備進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試。

2、毫米波電路測(cè)試?：某些射頻測(cè)試探針可滿(mǎn)足高頻應(yīng)用需求，適用于測(cè)試最高工作頻率達(dá)到數(shù)百GHz的毫米波。

3、射頻性能驗(yàn)證?：在電子設(shè)備的研發(fā)生產(chǎn)過(guò)程中，用于確保射頻元件在各種頻率下的性能符合設(shè)計(jì)要求。

4、信號(hào)參數(shù)測(cè)量?：能夠精確測(cè)量高頻環(huán)境下電路的信號(hào)參數(shù)，包括信號(hào)的幅度、相位、頻率等。在射頻器件的特性、一致性和質(zhì)量測(cè)試中都發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

芯啟源科技，深耕射頻微波領(lǐng)域十余年，我司研發(fā)生產(chǎn)的射頻測(cè)試探針可配合生產(chǎn)夾具，實(shí)現(xiàn)PCB線(xiàn)路板的免焊測(cè)試及改進(jìn)生產(chǎn)效率。也可用于開(kāi)關(guān)底座、同軸底座、PCB多點(diǎn)焊盤(pán)、PCB同心圓測(cè)試等，更高效的評(píng)估和優(yōu)化無(wú)線(xiàn)電頻譜、射頻功率及調(diào)制解調(diào)器性能，確保通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性和高效性。同時(shí)特殊尺寸、接頭類(lèi)型、材質(zhì)、頻率范圍均可定制。